奧地利BAUR frida VLF超低頻耐壓設(shè)備，本產(chǎn)品便攜且性能強大的高壓測試和診斷設(shè)備用于對*高 20 kV 的中壓電纜和電氣設(shè)備進行電纜和電纜護套測試?，F(xiàn)在熱賣中，如需購買，可通過ai1718的客服熱線聯(lián)系我們！
奧地利BAUR frida VLF超低頻耐壓設(shè)備簡介：
•BAUR 的便攜式儀器 frida 和 frida TD 用于：
測試中壓電纜和電氣設(shè)備（發(fā)電機、 變壓器和開關(guān)設(shè)備測試）
電纜護套測試
電纜診斷 (frida TD)：
介損測量和帶 tan δ 的監(jiān)控耐壓測試
局部放電測量*
帶 tan-δ 和局部放電測量的wan全監(jiān)控耐壓測試
•frida通過 VLF 測試可以在*短的測試時間內(nèi)發(fā)現(xiàn)塑料和油浸紙絕緣電纜中的絕緣層損傷 ，并且不會對周圍的絕緣材料造成不利影響
•frida采用 0.1 Hz VLF-truesinus® 的損耗因數(shù)診斷會為油浸紙電纜和 PE/XLPE 電纜給出差異化的結(jié)論。 處理 PE/XLPE 電纜時 ，介損測量會區(qū)分出新電纜、 受“水樹"損傷較輕和較嚴(yán)重的電纜。 這樣*可以確定電纜的更換緊迫程度
•frida帶 tan delta 的監(jiān)控耐壓測試結(jié)合了電纜耐壓測試和介損測量，能夠?qū)﹄娎|狀態(tài)進行*又全面的判斷。 此外，通過優(yōu)化測試時間可對電纜的破壞降到*低水平
frida電纜狀態(tài)評估的新方法
•一臺儀器完成電纜耐壓測試和介損診斷
•測試簡單快捷
•自動化的測試及診斷流程
•結(jié)構(gòu)精巧、 重量輕
frida VLF測試診斷儀產(chǎn)品特點：
•*高測試電壓 24 kV rms / 34 kV peak
•電壓波形：VLF-truesinus ® ， VLF-方波電壓和直流電壓
•VLF- truesinus ® 測試技術(shù)確保提供與負(fù)載無關(guān)重復(fù)性好的正弦波高壓
•電纜測試符合：DIN VDE 0276-620/621(CENELEC HD 620/621), IEEE 400-2012, IEEE 400.2-2013, IEC 60060-3
•電纜護套檢測符合 IEC 60502/IEC 60229 標(biāo)準(zhǔn)
•電氣設(shè)備電壓測試符合 IEEE 433 標(biāo)準(zhǔn)frida TD
•*高采用 20 kV 對電氣設(shè)備和中壓電纜進行損耗因數(shù)診斷
•高*介損測量，*度可達 1 x 10 -4
•通過 VSE-Box（選項）檢測泄漏電流
•結(jié)合 PD-TaD 60 通過wan全監(jiān)控耐壓測試更全面了解電纜狀態(tài)
Full MWT = VLF 電纜耐壓測試和同步的介損和局部放電測量
可用的方法和組合方法參閱第 2 頁
•全自動并可進行個性化編輯的診斷流程（ 包括評估）
frida VLF測試診斷儀一般信息
•通過 USB 接口進行數(shù)據(jù)通訊
•電腦軟件管理測試數(shù)據(jù)
•自動放電檢測裝置
•可通過選項擴展
frida： 擴展成為局部放電診斷系統(tǒng)
frida TD： 擴展成為局部放電和Full MWT 診斷系統(tǒng)
Full 監(jiān)控耐壓測試
•更具說服力的組合方法
使用 BAUR VLF 測試診斷儀 frida TD 時 ，您可以結(jié)合便攜式局部放電診斷系統(tǒng) PD-TaD 60， 在進行 VLF 電纜測試的同時*完成介質(zhì)損耗的測量并檢查電纜線路的局部放電情況。 這種組合方法稱為 Full MWT ，相比單獨的電纜耐壓測試， 它可以明顯提供更多的信息。 通過電纜測試可以看出電纜設(shè)備能否在特定的測試耗時內(nèi)承受負(fù)載， 而介損測量則可以對電纜絕緣層進行狀態(tài)評估 ，并能借助局部放電測量識別并準(zhǔn)確定位局部放電故障部位。 MWT *大的亮點在于以狀態(tài)為導(dǎo)向的測試時間 ：條件允許時 ， 可以縮短測試時間 ，這可以降低成本。 這樣電纜*只需要在必要的時間內(nèi)承受較高的測試電壓。
VLF-truesinus ® - 一種適用于各種方法和組合方法的電壓波形
VLF-truesinus ® 是*一種既能可靠地進行電壓測試又能*進行介損和局部放電測量的電壓波形。 相對于其他電壓波形 ， VLF-tru-esinus ® 電壓與負(fù)載無關(guān)、 對稱且連續(xù)。 這是確保測量結(jié)果高*并且具有可重復(fù)性和可比性的前提條件。
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